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    IRE-200 膜厚測試儀

    光學薄膜測厚儀,IRE-200是一款超高精度的外延層厚度測量設備,利用紅外光譜經傅里葉變換進行快速分析,主要應用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各類外延片的外延層厚度測量。

    更新日期:2025-02-08

    型號:

    廠商性質:生產廠家

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