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在發展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學的管理促進企業迅速發展ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀,凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的研發投入,其采用行業前沿的創新技術,包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制、穆勒矩陣數據分析等。 可應用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數以及一維/二維納米光柵材料結構的表征分析。 全自動變角、對焦技術,一鍵快速測量; 向導交互式人機界面,便捷的軟件操作體驗; 豐富的材料數據庫與算法模型庫,強大的
更新日期:2025-02-08
型號:
廠商性質:生產廠家
教學橢偏儀,Mapping系列光譜橢偏儀是全自動高精度Mapping繪制化測量光譜橢偏儀,配置全自動Mapping運動機構,通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量,快速實現薄膜全基片的膜厚及光學參數自定義繪制化測量表征。
更新日期:2025-02-08
型號:
廠商性質:生產廠家
橢偏儀廠家的SE-VM光譜橢偏儀是一款高精度快速測量光譜橢偏儀,可實現科研/企業級高精度快速光譜橢偏測量,支持多角度、微光斑、可視化調平系統等高兼容性靈活配置,支持多功能模塊定制化設計。
更新日期:2025-02-08
型號:
廠商性質:生產廠家
國產橢偏儀,SE-VE光譜橢偏儀是一款高性價比快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成化設計,操作簡便,一鍵快速測量和向導交互式人機界面,具有豐富的材料數據庫和算法模型庫、強大的數據分析能力。
更新日期:2025-02-08
型號:
廠商性質:生產廠家
紅外橢偏儀,SE-i光譜橢偏儀針對有機/無機鍍膜工藝研究的需要開發的原位薄膜在線監測中的定制化開發,可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量,橢偏測量頭快速實現光學薄膜原位表征分析
更新日期:2024-07-04
型號:
廠商性質:生產廠家